該規(guī)范適用于平面直角坐標(biāo)系的影像測(cè)量?jī)x。引用了幾何量測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)中的不確定度評(píng)定指南和影像測(cè)量?jī)x的驗(yàn)收監(jiān)測(cè)和復(fù)檢監(jiān)測(cè)。

其中涉及到較為重要的參數(shù)需要進(jìn)行熟知。

1. 影像測(cè)量?jī)x在平面上的尺寸測(cè)量誤差(Exy):  該測(cè)量誤差代表在影像測(cè)量平面上任意方向擺放產(chǎn)品或樣件，測(cè)量二維尺寸的示值誤差。

2. 影像測(cè)量?jī)x在Z軸上的尺寸測(cè)量誤差( Ez): 該測(cè)量誤差代表在垂直于影像測(cè)量平面方向，單軸方向測(cè)量的示值誤差。

3. 影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量頭的尺寸測(cè)量誤差(Ev) :在平臺(tái)不做移動(dòng)，在影像視場(chǎng)范圍內(nèi)測(cè)量平面任意尺寸的示值誤差。

4. 影像測(cè)量?jī)x測(cè)量各截面測(cè)量結(jié)果的一致性(Ec) :影像測(cè)量?jī)x在光軸的不同截面上測(cè)量時(shí)，各截面坐標(biāo)原點(diǎn)投影與XY平面的一致性，可以理解為影像測(cè)量?jī)x沿Z方向上下移動(dòng)時(shí)，Z軸與XY水平面之間的垂直程度，也可以反映測(cè)量頭在不同高度用影像測(cè)量特性的一致性。

5. 影像測(cè)量?jī)x二維探測(cè)誤差(P2D) :用影像測(cè)量?jī)x測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓的半徑變化幅度。

6. 影像測(cè)量?jī)x測(cè)頭的探測(cè)誤差(PV) :用影像測(cè)量?jī)x在視場(chǎng)范圍內(nèi)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓的半徑變化幅度。

7.影像測(cè)量?jī)x的變倍探測(cè)誤差(Pz) :用影像測(cè)量?jī)x在不同倍率下測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓心坐標(biāo)的示值變化幅度。