英國(guó)abi-3200電路板維修測(cè)試儀是abi-3400的簡(jiǎn)化版。可在靜態(tài)（非加電）條件下分析器件及整板測(cè)試。采用獨(dú)特的三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件，增加問題檢測(cè)范圍, 同時(shí)減少測(cè)試時(shí)間！

1.軟件配置：

1）具有測(cè)試流程記憶功能（軟件具有強(qiáng)大的測(cè)試流程編輯和記錄功能）

2）*全面記錄各種測(cè)試信息。軟件可將標(biāo)準(zhǔn)電路板上測(cè)量到的V-I-F、V-I和V-T曲線圖都存儲(chǔ)記錄到測(cè)試程序中，方便隨時(shí)與其他電路板進(jìn)行對(duì)比，大大簡(jiǎn)化了測(cè)試中需要重復(fù)對(duì)比的工作。

3）軟件在測(cè)試流程中允許用戶根據(jù)需要加入對(duì)測(cè)試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網(wǎng)頁(yè)鏈接、視頻等，極大提升了測(cè)試效率。

4）*中文、英文測(cè)試操作軟件，提供免費(fèi)終生軟件的升級(jí)服務(wù)；

2.硬件配置：

1）具有32通道數(shù)字V-I動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試（可擴(kuò)充到2048通道）。

2）*具有32路測(cè)試V-I-F和V-I測(cè)試通道，2路探棒測(cè)試，2組同步脈沖。具備變頻三維立體V-I-F測(cè)量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線。可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。三維畫面與二維畫面可以相互切換，可在二維圖面上顯示曲線各點(diǎn)的電氣參數(shù)值(V/I)：電壓、電流具體數(shù)值。擴(kuò)充到2048路V-I-F測(cè)試通道。

3）*系統(tǒng)可對(duì)各種器件進(jìn)行端口測(cè)試： V-I、V-T、V-I-F、V-T-F測(cè)試。二維V-I測(cè)試低達(dá)1Hz頻率，測(cè)試頻率高達(dá)10kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件。可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的幅值與寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試。

靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進(jìn)行測(cè)試。

檢測(cè)電路板上受損器件。

可檢測(cè)出具有泄漏型故障的器件。

可檢測(cè)出不相同的器件。

將損壞風(fēng)險(xiǎn)降至很低。

通道可擴(kuò)充至2048路

對(duì)于模擬及數(shù)字電路板, V/I曲線測(cè)試是成熟、可靠的解決方案。

透過一個(gè)限流電阻器, 施加AC電壓到一個(gè)測(cè)試點(diǎn)時(shí), 測(cè)量因此產(chǎn)生的電流, 并將結(jié)果繪制成一個(gè)電壓/電流圖形, 即顯示該測(cè)試點(diǎn)的特性曲線。

漏電流器件。

內(nèi)部受損器件。

錯(cuò)誤數(shù)值的器件。

不一致的器件。

短路與開路。

abi-3200通過改變V/I信號(hào)的AC電壓的頻率, 而增加問題檢測(cè)范圍, 其產(chǎn)生的曲線, 繪制在一個(gè)3D窗口內(nèi), 能讓使用者觀察到整個(gè)頻率范圍上的V/I曲線變化, 進(jìn)而找到標(biāo)準(zhǔn)V/I分析方法看不見的問題。

abi-3200模塊也可使用矩陣式掃描獲得V/I曲線, 而增加問題檢測(cè)范圍。在這個(gè)模式時(shí), abi-3200模塊是在參考所有其它有效管腳(不同于標(biāo)準(zhǔn)V/I測(cè)試中只有一個(gè)參考管腳)的情形下, 獲得一個(gè)器件或電路板每個(gè)管腳的V/I曲線。如此,便能產(chǎn)生豐富的數(shù)據(jù)組(一個(gè)20腳器件400條曲線), 足以檢測(cè)出不易查找的故障。

北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國(guó)ABI技術(shù)服務(wù)中心）提供:

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