Microchip 53100A相位噪聲分析儀

概述

53100A相位噪聲分析儀可以測量高性能RF信號源的幅度、相位和頻率穩(wěn)定性。測試頻率范圍為1MHz到200MHz。53100A可以告訴您關(guān)于您被測設(shè)備的任何穩(wěn)定性特性，時間刻度范圍可以從飛秒到天。無論是單獨使用還是集成到自動化測試系統(tǒng)中，小巧的外形和業(yè)界領(lǐng)先的測量速度使得51300A可以適用于大多數(shù)應(yīng)用。

繼承并擴展了3120A和51XXA系列儀器的優(yōu)點，53100A可以以更低的成本來快速精確地測量SSB單邊帶相位噪聲和ADEV阿倫反差。得益于改進地設(shè)計和制造工藝進步，53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。

特點

信號輸入和參考輸入，頻率范圍1MHz到200MHz

沒有相位鎖定和不需要測量校準

單或雙參考振蕩器輸入允許互相關(guān)測量

TSC 51XXA命令和數(shù)據(jù)流仿真功能減少了重寫現(xiàn)有測試腳本的負擔

直觀的圖形界面使用戶能夠快速開始測量

測量

亞皮秒精度相位和頻率差的實時帶狀圖

絕對頻率計數(shù)精度每秒鐘13位以上，高17位

ADEV典型值<5E-14（1秒）

可以測量MDEV、HDEV、TDEV

相位噪聲和幅度噪聲偏移范圍為0.001Hz到1MHz，水平典型小于-175dBc/Hz（10MHz載波）

時間抖動、殘余FM調(diào)頻和SSB載波/噪聲比率

在Windows系統(tǒng)上使用高性能的基于電腦的DSP技術(shù)，所有這些測量都可以同時進行。您可以查看、保存、比較、打印和導(dǎo)出各種格式數(shù)據(jù)，包括TSC 51XXA兼容的。測量精度取決于用戶提供的外部參考源，參考源頻率為1MHz到200MHz，儀器本身不需要校準。

規(guī)格（25℃環(huán)境），除非備注其他溫度

性能

頻率范圍	1到200MHz
ADEV	<7E-14 (1秒) <5E-16(1000秒)

相位噪聲規(guī)格

偏移頻率范圍：0.001Hz到1MHz

系統(tǒng)噪聲平面

偏移	5MHz載波	100MHz載波
1Hz	-135	-120
10Hz	-145	-130
100Hz	-155	-145
1kHz	-165	-160
10kHz	-170	-170
>100kHz	-170	-170
Spurious (5到100MHz)	-100	-100

電氣特性

輸入信號電平：-5到+15dBm

輸入阻抗：50歐姆

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北京創(chuàng)宇星通科技有限公司（Microchip授權(quán)代理）

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