PerkinElmer LAMBDA 1050+ UV/Vis/NIR 分光光度計(jì)旨在提供高的性能和靈活性來分析各種樣品類型，包括分析涂層、高性能玻璃、太陽(yáng)能以及研究和制造中的材料和組件。LAMBDA 1050+ 在超高性能、靈活性和便利性方面滿足并經(jīng)常超過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。新一代的 LAMBDA 1050+ 分光光度計(jì)旨在提供比以往更快的掃描速率、儀器設(shè)置和更好的響應(yīng)時(shí)間，以大限度地提高您的工作效率。

貨號(hào) L6020055

更好的樣品控制

LAMBDA 1050+ 設(shè)計(jì)有許多功能和附件來控制您的樣品并確保您的數(shù)據(jù)質(zhì)量，包括：

業(yè)界大的樣品室，樣品可操作性更強(qiáng)，可快速安裝各種附件

卡入式積分球可捕獲漫反射和鏡面反射。提供 100 和 150 毫米，具有 8° 反射率和中心安裝能力

帶有雙 Si 和 InGaAs 探測(cè)器的通用反射附件，用于自動(dòng)、準(zhǔn)確和可重復(fù)的角度調(diào)整

Pol/Depol 驅(qū)動(dòng)單元，用于通過 PC 自動(dòng)控制偏振光或去偏振光

內(nèi)部?jī)x器控制衰減從 1% 到 0.1%，用于高吸收測(cè)量

更智能的靈活性

LAMBDA 1050+ 的智能模塊化設(shè)計(jì)以及一系列卡入式附件允許您設(shè)置儀器以滿足各種需求和配置，包括：

雙采樣室 – LAMBDA 1050+ 可以配置兩個(gè)大型采樣室，從而獲得兩倍的靈活性。一種用于標(biāo)準(zhǔn)反射或透射測(cè)試，另一種用于更具體的可定制應(yīng)用

通用反射附件 – 卸下標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器并卡入這個(gè)創(chuàng)新附件，用于自動(dòng)測(cè)量樣品角度

通用光學(xué)平臺(tái) – 更換我們的 GPOB 以容納更大的樣品，例如透鏡、分束器和光學(xué)器件

更高的生產(chǎn)力

更快的結(jié)果- 憑借其高靈敏度，新的 LAMBDA 1050+ 可以比以往更快地掃描，而不會(huì)降低數(shù)據(jù)質(zhì)量 - 簡(jiǎn)單掃描速度比舊版本快 2.25 倍，全掃描速度快 40%

更高的靈敏度- 雙反射鏡提供更好的信號(hào)，以更高的靈敏度準(zhǔn)確表征您的樣品

縮短設(shè)置時(shí)間-憑借業(yè)界很短的儀器設(shè)置和采樣設(shè)置時(shí)間，閃電般快速的 LAMBDA 1050+ 比以往更快。它不僅可以讓您去以前從未去過的地方，而且可以以很快的方式到達(dá)那里！我們還為我們所有的 LAMBDA 分光光度計(jì)提供標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證套件。 

LAMBDA 1050+ 紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)技術(shù)參數(shù)：