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型 號(hào)：BeamMap2 |
數(shù) 量： |
| 品 牌： |
包 裝： |
價(jià) 格：面議 |
美國(guó)Dataray BeamMap2掃描狹縫光束質(zhì)量分析儀
產(chǎn)品介紹：
美國(guó)DataRay的BeamMap2掃描狹縫光束質(zhì)量分析儀是在BeamR2的升級(jí)款，相比于BeamR2的兩隊(duì)狹縫，BeamMap2在旋轉(zhuǎn)圓盤上不同的Z軸位置安裝4對(duì)狹縫，可以同時(shí)在四個(gè)不同的z位置觀測(cè)四個(gè)光束輪廓，從而能進(jìn)行實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)、多平面測(cè)量光束質(zhì)量M2測(cè)量。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
·190 ~ 1150nm，硅探測(cè)器
·650 ~ 1800 nm, InGaAs探測(cè)器
·1000 ~ 2300或2500 nm,
InGaAs(擴(kuò)展)探測(cè)器
·光束直徑5µm至4mm，刀口模式2µm
·USB 2.0端口供電;柔性3米電纜;無(wú)外部電源
·0.1µm采樣和分辨率
·實(shí)時(shí)X-Y-Z光束剖面分析，束腰位置測(cè)量
·實(shí)時(shí)多Z軸平面掃描狹縫系統(tǒng)
·實(shí)時(shí)M2，發(fā)散角 ，激光準(zhǔn)直度測(cè)量
光束輪廓分析儀Beammap2系列應(yīng)用：
·小尺寸連續(xù)激光束輪廓分析
·光學(xué)組件和儀器對(duì)準(zhǔn)
·OEM集成
·鏡頭焦距測(cè)試
·實(shí)時(shí)診斷聚焦和對(duì)準(zhǔn)誤差
型號(hào)參數(shù)：
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型號(hào)
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BeamMap2 – XY Scanning Slit Beam Profiler
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CCD材料
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Si
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Si + InGaAs
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InGaAs
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Si+InGaAs (extended)
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波長(zhǎng)范圍
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190 to 1150 nm
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650 to 1800 nm
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190 to 1800 nm
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190 to 2300 or 2500 nm
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探測(cè)尺寸
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5 µm to 4 mm‚
低2 µm（刀口模式）
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10 µm to 3 mm‚
低2 µm（刀口模式）
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10 µm to 3 mm‚
低2 µm（刀口模式）
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10 µm to 2 mm‚低2 µm（刀口模式）
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分辨率精度
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0.1 µm或掃描范圍的0.05％
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刷新頻率
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5Hz
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測(cè)量激光類型
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CW；脈沖激光器，Φµm≥[500 /（PRR以kHz為單位）
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動(dòng)態(tài)范圍
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1000：1可調(diào)范圍
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大功率或輻照度
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0.5 mW / µm²
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系統(tǒng)要求
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Windows,
2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port
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