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鹽霧測試是一種主要利用鹽霧試驗設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗。它分為二大類，一類為天然環(huán)境暴露試驗，另一類為人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗。人工模擬鹽霧環(huán)境試驗是利用一種具有一定容積空間的試驗設(shè)備——鹽霧試驗箱，在其容積空間內(nèi)用人工的方法，造成鹽霧環(huán)境來對產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能質(zhì)量進行考核。它與天然環(huán)境相比，其鹽霧環(huán)境的氯化物的鹽濃度，可以是一般天然環(huán)境鹽霧含量的幾倍或幾十倍，使腐蝕速度大大提高，對產(chǎn)品進行鹽霧試驗，得出結(jié)果的時間也大大縮短。 鹽霧試驗標(biāo)準(zhǔn)是對鹽霧試驗條件，如溫度、濕度、氯化鈉溶液濃度和PH值等做的明確具體規(guī)定對鹽霧試驗箱性能提出技術(shù)要求。同種產(chǎn)品采用哪種鹽霧試驗標(biāo)準(zhǔn)要根據(jù)鹽霧試驗的特性和金屬的腐蝕速度及對鹽霧的敏感程度選擇。 GB/T 6461-2002 《金屬基體上金屬和其它無機覆蓋層 經(jīng)腐蝕試驗后的試樣和試件的評級》 GB 6458-86 金屬覆蓋層 中性鹽霧試驗(NSS 鹽霧試驗) ISO 3768-1976《金屬覆蓋層 中性鹽霧試驗（NSS 鹽霧試驗》 ISO 9227/GB/T10125 人工氣候腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 2423.17/ IEC 60068-2-11《中型鹽霧試驗標(biāo)準(zhǔn)(NSS) 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 GB/T 2423.18-2000 《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗》Kb: 鹽霧試驗, 交變(氯化鈉溶液) GB/T12967.3-2008 銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS鹽霧試驗）
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