半導(dǎo)體特性曲線(xiàn)圖示儀！適用于二極管，晶體管 IGBT，場(chǎng)效應(yīng)管 MOS-FET， 可控硅 SCR，達(dá)林頓陣列，光電耦合，壓變電阻 VARISTOR，繼電器 RELAY 等半導(dǎo)體器件反向 恢復(fù)特性，短路特性，雪崩測(cè)試，結(jié)電容/電阻測(cè)試，漏電參數(shù)，擊穿參數(shù)，增益參數(shù)，導(dǎo) 通參數(shù)，混合參數(shù)，電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 特性測(cè)試。
日本IWATSU CS-3300半導(dǎo)體特性曲線(xiàn)圖示儀CS-3100，CS-3200，(符合 UL 規(guī)格)
非常適合測(cè)量不同類(lèi)型半導(dǎo)體（包括IGBT、MOSFET、晶體管和二極管）的特性
小型鱷魚(yú)夾（黑色） x 10
CS-002
M型測(cè)試臺(tái)選件：CS-302
半導(dǎo)體參數(shù)搜索
CS-800
該軟件選件需與CS-3000系列配合安裝
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量
CS-810
主控裝置中裝有CS-800時(shí)，該選項(xiàng)可以在PC（可選）上使用。
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主機(jī) |
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測(cè)試臺(tái) |
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測(cè)試適配器 |
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鱷魚(yú)夾 |
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軟件選件 |
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