半導(dǎo)體特性曲線(xiàn)圖示儀!適用于二極管,晶體管 IGBT,場(chǎng)效應(yīng)管 MOS-FET, 可控硅 SCR,達(dá)林頓陣列,光電耦合,壓變電阻 VARISTOR,繼電器 RELAY 等半導(dǎo)體器件反向 恢復(fù)特性,短路特性,雪崩測(cè)試,結(jié)電容/電阻測(cè)試,漏電參數(shù),擊穿參數(shù),增益參數(shù),導(dǎo) 通參數(shù),混合參數(shù),電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 特性測(cè)試。
日本IWATSU CS-3300半導(dǎo)體特性曲線(xiàn)圖示儀CS-3100,CS-3200,(符合 UL 規(guī)格)
非常適合測(cè)量不同類(lèi)型半導(dǎo)體(包括IGBT、MOSFET、晶體管和二極管)的特性
小型鱷魚(yú)夾(黑色) x 10
CS-002
M型測(cè)試臺(tái)選件:CS-302
半導(dǎo)體參數(shù)搜索
CS-800
該軟件選件需與CS-3000系列配合安裝
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量
CS-810
主控裝置中裝有CS-800時(shí),該選項(xiàng)可以在PC(可選)上使用。
|
主機(jī) |
|
|
測(cè)試臺(tái) |
|
測(cè)試適配器 |
|
鱷魚(yú)夾 |
|
軟件選件 |
|