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SID4-Swir-HR波前傳感器 SID4-SWIR-HR高分辨近紅外波前分析儀基于Phasicszhuanli(zhuanli號CN200780005898)的四波橫向剪切干涉技術和高質量的InGaAs探測器,提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7μm,這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區(qū)域且不需要任何校準直接進行測量。 特點: 由于其獨特的zhuanli技術技術,Phasics的SID4-Swir波前傳感器具備以下特點: 1.高分辨率:160x128測量點 2.高靈敏密度:整個光譜范圍內相位噪聲低于2nm 3.消色差:0.9-1.7μm(可擴展到2.4μm) 4.緊湊:易于集成 應用: 透鏡測試:SID4 SWIR波前分析儀實時測量光學元件MTF和畸變。適用于光通信,夜視和其他軍事和監(jiān)視設備。無色差,SID4 SWIR涵蓋所有光通信波長。 激光束測試:SID4 SWIR也可以短波紅外光源,像1.55μm激光器或用于激光導向系統(tǒng)的LED。 SID4-Swir產品參數: 波長范圍 | 0.9-1.7μm(可擴展到2.4μm) | 通光孔徑 | 9.6 x 7.68 mm2 | 空間分辨率 | 60 μm | 采樣點(相位/強度) | 160 x 128 (> 19 000 points) | 相位相對靈敏度 | <2nm RMS | 相位精度 | 15nm RMS | 動態(tài)范圍 | 100μM | 采樣頻率 | 120 fps | 實時分析頻率 | 7 fps (full resolution) | 數據接口 | Giga Ethernet | 尺寸(w x h x l) | 100 x 55 x 63 mm | 重量 | 455g |
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