GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)測試儀GDAT-S是電子元器件設(shè)計、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試強(qiáng)有力的工具。其超高速的測試速度使其特別適用于自動生產(chǎn)線的點(diǎn)檢機(jī)，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)測試儀GDAT-S是符合 LXI 標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測試儀器，其 0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻�極管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析。
ε和D性能：
固體絕緣材料測試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測試。

ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

測試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)

測試信號電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準(zhǔn)確度 ;0.1%

顯示范圍 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

測量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準(zhǔn)功能 :開路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)

等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式:自動, 保持

顯示方式 :直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動, 外部, 總線

內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源 :電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能:10檔分選及計數(shù)功能

顯示器;320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲器 :可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數(shù)字合成，

精度：±0.02%

電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯

電容測量基本誤差：±0.05%

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測試裝置（含保護(hù)電極）： 精密介電常數(shù)測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。

它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電幸數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的兩種測定方法。方法A為工頻(50Hz)下的測定方法,方法B為高頻電場下的測定方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于硫化橡膠。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款，凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘箱的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)，

GB/T2941橡膠物理試驗(yàn)方法試樣制備和調(diào)節(jié)通用程序(GB/T 2941-2006.1SO 23529:2004.IDT

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

3.1

介質(zhì)損耗dielectric loss

絕緣材料在電物作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。

3.2

損耗角&loss angle &

在交變電場下.電介質(zhì)內(nèi)流過的電流向量和電壓向證之間的夾角(功本因數(shù)角們的余角(8)。

3.3

損耗角正切 tanà loss tangeot 8

介質(zhì)損耗因數(shù)dielectric loss Tactor

介質(zhì)損耗角正切值。

3.4

介電常數(shù)Edielectric constant

絕緣材料在電場作用下產(chǎn)生極化,電容器極板間有電介質(zhì)存在時的電容量C、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C之比。

注，不同試樣,不同電極的真空電容和邊維校正的計貸參見附錄A.

4測試電極

4.1電極材料

見表1.

4.2電極尺寸

4.2.1板狀試樣電極

4.2.1.1 方法A:板狀電極尺寸見表2,電極如圍1所示，

4.2.1.2方法B:采用二電極系統(tǒng)，電極尺寸大小與試樣尺寸相等,或電極小于試樣尺寸。板狀試樣電極直徑為38.0 mm±0.1 mm,950.0 mm±0.1 mm.70.0 mm士0.1mm。4.2.2管狀試樣電極4.2.2.1 方法A:管狀試樣電極尺寸見表3.電極如圖2所示。

4.3 電極裝置

在進(jìn)行高頻測試時,根據(jù)測試頻率與測試要求可用支架電極(如圖4),當(dāng)頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時,宜用測微電極(如圖5);當(dāng)頻率大于或等于10MHi時,應(yīng)用測微電極，

5.1.2 測量范圍

損耗角正切(anò);0.001~1;電容(C):40 pF-2 000 pF.

5.1.3電橋測量誤差

測量時誤差不超過10%，當(dāng)試樣 tanB小于0.001時海量誤差不超過0.0001.電容的測量誤差不超過5%,標(biāo)準(zhǔn)電容器的tan 應(yīng)小于 0.0001。

5.1.4 電橋必須有良好的屏蔽接地裝置，

5.2方法B

5.2.1方法B的測試儀器有兩種,一種是造振升商法(Q表),另一種是變電鈉法，5.2.1.1諧振開高法(Q表)

其測試原理圖如圖7所示，

5.2.1.1.1測量范圖

頻率為50 Hz~50 MHz,電容 40 pF-500 pF.Q值10~600.5.2.1.1.2測量誤差

電容誤差:±(0.5%C+0.1pF),Q值±10%;有關(guān)儀器的測量誤差均為±10%。5.2.1.2變電銷法

其測試原理圖如圍8所示。

試樣

6.1試樣尺寸

6.1.1 方法A試樣尺寸見表4.

6.2試樣的制備

試樣的制備應(yīng)符合GB/T 2941的規(guī)定.也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉(zhuǎn)藏刀進(jìn)行裁切,制樣方法的不同,其試驗(yàn)結(jié)果無可比性。

6.3試樣數(shù)量

試樣的數(shù)量不少于3個。

7硫化與試驗(yàn)之間的時間間隔

試樣在硫化與試驗(yàn)之間的時間問隔按GB/T 2941的規(guī)定執(zhí)行。

8試驗(yàn)條件

8.1試樣表面應(yīng)清潔,平滑,無裂紋、氣泡和雜質(zhì)等,試樣表面應(yīng)用慈有無水乙醇的布擦洗，

8.2試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室溫度及濕度下至少調(diào)節(jié)24h。

8.3 當(dāng)試樣處理有特殊要求時,可按其產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的進(jìn)行。

9試驗(yàn)步驟

9.1方法A

9.1.1試驗(yàn)電壓為1000V-3000V,一般情況下為1000V,電源頻率為50 Hz.9.1.2按設(shè)備說明書正確的連接。

9，1.3接通電源預(yù)熱30min。

9.1.4 將試樣接人電橋-C,的橋臂中,加上試驗(yàn)電壓,根據(jù)電橋使用方法進(jìn)行平衡，讀取R。和tans 或C.的值.

9.2 方法B諧振升高法(Q表法)

9.2.1按照Q表的操作規(guī)程調(diào)整儀器,選定測量頻率,測定C和Q的值.9.2.2將試樣放入測試電極中,并調(diào)節(jié)電容器C.,使電路諧振,達(dá)到Q值記下調(diào)諾電容量C,和的值

9.2.3 將試樣從測試電極中取出,調(diào)節(jié)C,或測試電極的距離,使電路重新諧振,記下C,或測試電極的校正電容值與Q值,并根據(jù)測試值計算出損耗角tand與介電常數(shù)e.9.2.4其他高頻測試儀器按其說明書進(jìn)行操作,通過測試值計算出捐耗角 tanò 和介電常數(shù)e.