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GB/T1409-2006硫化橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

數(shù)量(件)

價(jià)格(元/件)

18911397542

詳細(xì)信息GB/T1409-2006硫化橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

在材料科學(xué)與電子制造領(lǐng)域,準(zhǔn)確測(cè)量絕緣材料的‌介電常數(shù)(ε)‌ 與‌介質(zhì)損耗角正切(D或tanδ)‌,是評(píng)估其儲(chǔ)能效率、絕緣可靠性與頻率響應(yīng)特性的關(guān)鍵。GDAT-S介電常數(shù)試驗(yàn)儀,作為一套集‌高頻阻抗分析儀‌與‌專用測(cè)試裝置‌于一體的智能化系統(tǒng),正以其高精度、高效率的特性,全面革新傳統(tǒng)的復(fù)雜測(cè)試流程。本概述旨在提供一篇約4000字的技術(shù)與應(yīng)用精華解讀。

一、 產(chǎn)品核心定位與標(biāo)準(zhǔn)遵循‌
GDAT-S系統(tǒng)本質(zhì)上是一個(gè) ‌“上下位同時(shí)檢測(cè)”‌ 的自動(dòng)測(cè)試方案。它由‌高頻阻抗分析儀主機(jī)、平板電容器測(cè)試裝置及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品‌組成,無需人工干預(yù)計(jì)算,即可直接讀取介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(D)的終結(jié)果,實(shí)現(xiàn)了從手動(dòng)測(cè)量到一鍵化智能測(cè)試的跨越。

核心測(cè)試參數(shù)‌:系統(tǒng)專業(yè)用于評(píng)估絕緣材料的‌介電常數(shù)(ε,相對(duì)介電常數(shù))‌和‌介質(zhì)損耗角(D)‌。其中,ε反映材料儲(chǔ)存電能的能力,D則表征材料在交變電場(chǎng)中的能量損耗程度。這兩個(gè)參數(shù)是決定高頻電路性能、絕緣材料選型和電容器設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)物理量。
嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)符合‌:儀器設(shè)計(jì)嚴(yán)格遵循以下國(guó)際國(guó)內(nèi)權(quán)威標(biāo)準(zhǔn),確保測(cè)試結(jié)果的廣泛認(rèn)可性:
GB/T 1409-2006‌《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法》
ASTM D150‌ 美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60250‌ 國(guó)際電工委員會(huì)方法
核心工作頻率‌:‌20Hz ~ 2MHz(標(biāo)準(zhǔn)配置)‌,并可‌選配擴(kuò)展至5MHz‌。這一寬頻范圍覆蓋了從工頻電源到中高頻通信應(yīng)用下的材料性能評(píng)估需求。
二、 主要性能與規(guī)格參數(shù)集覽‌
GDAT-S的技術(shù)優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在其精密的硬件指標(biāo)與豐富的軟件功能上。

1. 核心性能參數(shù)‌

性能指標(biāo)‌ ‌規(guī)格說明‌
核心功能‌ 直接測(cè)量絕緣材料的介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(D/tanδ)
符合標(biāo)準(zhǔn)‌ GB/T 1409-2006, ASTM D150, IEC 60250
頻率范圍‌ 20Hz ~ 2MHz (標(biāo)準(zhǔn)),可‌選配至5MHz‌
ε測(cè)量范圍‌ ‌1 ~ 10‌ (可達(dá)十萬)
D測(cè)量范圍‌ ‌0.00005 ~ 0.1‌
ε精度@10kHz‌ ‌±2%‌
D精度@10kHz‌ ‌±5% ±0.0001‌
電容(Cp)分辨率‌ ‌0.00001pF‌ (六位數(shù)顯)
D值顯示位數(shù)‌ 6位
高測(cè)試速度‌ ‌13ms/次‌ (快速模式)
測(cè)試參數(shù)‌ C, L, R, Z, Y, X, B, G, D, Q, θ, DCR
輸出阻抗‌ 10Ω, 30Ω, ‌50Ω‌, 100Ω 可選
內(nèi)部DC偏置源‌ 電壓: -5V ~ +5V; 電流: -100mA ~ +100mA
顯示屏‌ 4.3英寸TFT液晶,中英文操作界面
數(shù)據(jù)接口‌ USB, LAN, RS232C, HANDLER, GPIB(選件)
2. 測(cè)試裝置(平板電容器)規(guī)格‌

樣品尺寸‌:適用于直徑‌φ10mm ~ φ56mm‌、厚度‌< 10mm‌的片狀試樣。
測(cè)試方法‌:支持‌接觸電極法、薄膜電極法和非接觸法(空氣隙法)‌,可適應(yīng)軟材料、薄膜及表面不平整的試樣。
微分頭分辨率‌:‌10μm‌,可精確調(diào)節(jié)電極間距。
高使用頻率‌:‌5MHz‌(選配,與主機(jī)高頻能力匹配)。
三、 產(chǎn)品核心優(yōu)勢(shì)與智能化功能‌
GDAT-S系列之所以稱為“系統(tǒng)”,在于其集成了高度智能化的特性,遠(yuǎn)超傳統(tǒng)測(cè)試儀。

自動(dòng)化與計(jì)算優(yōu)勢(shì)‌:系統(tǒng)能直接測(cè)量并計(jì)算終結(jié)果,‌無需人工計(jì)算‌,避免了人為計(jì)算錯(cuò)誤,極大提升了測(cè)試效率與數(shù)據(jù)一致性。
高頻寬與高精度‌:‌高5MHz的測(cè)試頻率‌(可選)配合高分辨率,滿足了高頻材料研發(fā)需求。‌0.00001pF的電容分辨率‌和‌6位D值顯示‌,確保了ε和D值的測(cè)量精度與重復(fù)性。
豐富的擴(kuò)展測(cè)試能力‌:
內(nèi)置比較器(分選器)‌:提供10檔分選(BIN)及計(jì)數(shù)功能,適用于生產(chǎn)線的快速質(zhì)量篩查與合格品/不合格品分選。
列表掃描功能‌:支持設(shè)定多達(dá)10個(gè)頻率點(diǎn)的自動(dòng)掃描,快速繪制材料的頻率特性曲線。
自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)‌:自動(dòng)優(yōu)化測(cè)試信號(hào),確保在不同頻率和阻抗下均能獲得高信噪比數(shù)據(jù)。
變壓器測(cè)試功能‌與‌平衡測(cè)試功能‌:擴(kuò)展了儀器在磁性元件和差分結(jié)構(gòu)測(cè)試方面的應(yīng)用。
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理與連接‌:
測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存至U盤,內(nèi)部可存儲(chǔ)20組儀器設(shè)定狀態(tài)。
提供USB、LAN、RS232C、GPIB(選件)等多種接口,便于連接計(jì)算機(jī)、組建自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)或接入工廠網(wǎng)絡(luò)。

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北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司高壓漏電起痕試驗(yàn)儀

王春婷

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