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| 本發(fā)明公開了一種光纖陀螺磁場－溫度性能的測試方法。本發(fā)明公開的測試方法主要測試步驟是將光纖陀螺水平放置于測試平臺，并在磁場中勻速轉(zhuǎn)動，計(jì)算機(jī)采集光纖陀螺在靜態(tài)，徑向磁場，軸向磁場和不同溫度作用下的輸出，并分別測試徑向／軸向磁場和溫度共同作用下光纖陀螺的輸出。通過測得磁場值、溫度值和相應(yīng)陀螺輸出，可分析光纖陀螺磁場－溫度靈敏度，從而評價(jià)磁場－溫度作用下光纖陀螺的零偏穩(wěn)定性，為以后建立數(shù)學(xué)模型，進(jìn)一步進(jìn)行光纖陀螺的磁場－溫度補(bǔ)償打下了良好堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。本發(fā)明的測試方法能夠測試光纖陀螺徑向／軸向磁場靈敏度和溫度特性，填補(bǔ)了國內(nèi)此項(xiàng)研究的空白。 |
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光纖陀螺磁場-溫度靈敏度測試方法
一種光纖陀螺磁場－溫度性能的測試方法，其特征在于包括以下步驟： １）將光纖陀螺水平放置于測試平臺，計(jì)算機(jī)采集光纖陀螺靜態(tài)時輸出； ２）加磁場，使光纖陀螺處于徑向磁場作用下； ３）控制光纖陀螺在磁場中勻速轉(zhuǎn)動； ４）通過霍爾傳感器測量磁場強(qiáng)度，計(jì)算機(jī)采集光纖陀螺各個方向的徑向磁場作用下的輸出； ５）測試一段時間后，光纖陀螺停止轉(zhuǎn)動，光纖陀螺由垂直水平面方向轉(zhuǎn)過９０度，此時，光纖陀螺處于軸向磁場作用下； ６）按照步驟３）、步驟４），計(jì)算機(jī)采集光纖陀螺各個方向的軸向磁場作用下的輸出，關(guān)磁場； ７）通過半導(dǎo)體制冷器控制光纖陀螺工作溫度為０℃～６０℃； ８）通過溫度傳感器實(shí)時測試溫度值，計(jì)算機(jī)采集光纖陀螺在不同溫度環(huán)境下的輸出； ９）按照步驟２）、步驟３）、步驟７）、步驟８），測試徑向磁場和溫度共同作用下，光纖陀螺的輸出。 １０）按照步驟５）、步驟７）、步驟８），測試軸向磁場和溫度共同作用下，光纖陀螺的輸出。
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| 專利號: |
200810061656 |
| 申請日: |
2008年5月26日 |
| 公開/公告日: |
2008年10月15日 |
| 授權(quán)公告日: |
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| 申請人/專利權(quán)人: |
浙江大學(xué) |
| 國家/省市: |
杭州(86) |
| 郵編: |
310027 |
| 發(fā)明/設(shè)計(jì)人: |
程來富、張登偉、舒曉武 |
| 代理人: |
張法高 |
| 專利代理機(jī)構(gòu): |
浙江大學(xué)專利代理事務(wù)所(33200) |
| 專利代理機(jī)構(gòu)地址: |
浙江省杭州市玉古路117號6樓浙江大學(xué)內(nèi)(310013) |
| 專利類型: |
發(fā)明 |
| 公開號: |
101285690 |
| 公告日: |
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| 授權(quán)日: |
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| 公告號: |
000000000 |
| 優(yōu)先權(quán): |
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| 審批歷史: |
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| 附圖數(shù): |
1 |
| 頁數(shù): |
3 |
| 權(quán)利要求項(xiàng)數(shù): |
1 |
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