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一種數(shù)字邏輯芯片及其可測(cè)試設(shè)計(jì)的方法 |
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| 本發(fā)明提供一種數(shù)字邏輯芯片及其可測(cè)試設(shè)計(jì)的方法，其中，該方法是在所述數(shù)字邏輯芯片中的各個(gè)掃描觸發(fā)器與觀測(cè)管腳之間設(shè)置相應(yīng)的邏輯器件，通過(guò)所述觀測(cè)管腳分時(shí)觀測(cè)各個(gè)掃描觸發(fā)器的信號(hào)，在所述信號(hào)經(jīng)過(guò)所述邏輯器件后，通過(guò)將觀測(cè)結(jié)果與預(yù)定的觀測(cè)結(jié)果進(jìn)行比較，以判斷所述數(shù)字邏輯芯片是否出現(xiàn)異常。本發(fā)明的數(shù)字邏輯芯片及其可測(cè)試設(shè)計(jì)的方法，能夠通過(guò)少量管腳實(shí)現(xiàn)電路在掃描測(cè)試時(shí)的可觀測(cè)。 |
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一種數(shù)字邏輯芯片及其可測(cè)試設(shè)計(jì)的方法
一種對(duì)數(shù)字邏輯芯片的可測(cè)試設(shè)計(jì)的方法，其特征在于，在所述數(shù)字邏輯芯片中的各個(gè)掃描觸發(fā)器與觀測(cè)管腳之間設(shè)置相應(yīng)的邏輯器件，通過(guò)所述觀測(cè)管腳分時(shí)觀測(cè)各個(gè)掃描觸發(fā)器的信號(hào)，在所述信號(hào)經(jīng)過(guò)所述邏輯器件后，通過(guò)將觀測(cè)結(jié)果與預(yù)定的觀測(cè)結(jié)果進(jìn)行比較，以判斷所述數(shù)字邏輯芯片是否出現(xiàn)異常。
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| 專利號(hào): |
200810114557 |
| 申請(qǐng)日: |
2008年6月4日 |
| 公開/公告日: |
2008年11月12日 |
| 授權(quán)公告日: |
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| 申請(qǐng)人/專利權(quán)人: |
北京中星微電子有限公司 |
| 國(guó)家/省市: |
北京(11) |
| 郵編: |
100083 |
| 發(fā)明/設(shè)計(jì)人: |
王振國(guó) |
| 代理人: |
梁軍 |
| 專利代理機(jī)構(gòu): |
電子工業(yè)部專利服務(wù)中心(11010) |
| 專利代理機(jī)構(gòu)地址: |
北京市石景山區(qū)魯谷路74號(hào)院內(nèi)(北京750信箱)(100039) |
| 專利類型: |
發(fā)明 |
| 公開號(hào): |
101303392 |
| 公告日: |
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| 授權(quán)日: |
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| 公告號(hào): |
000000000 |
| 優(yōu)先權(quán): |
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| 審批歷史: |
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| 附圖數(shù): |
3 |
| 頁(yè)數(shù): |
6 |
| 權(quán)利要求項(xiàng)數(shù): |
2 |
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