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| 本發明公開了一種主動反射面天線的電性能預測方法，主要解決在主動反射面天線面板調整時難以預測電性能的問題。其過程是：基于天線的基本結構參數和主動面板的劃分情況，得到主動面板的初始位姿；在單塊面板上選取采樣結點，計算結點的相位差，合成單塊面板的相位差，最終合成天線反射面整體的相位差；利用四邊形單元高斯積分公式計算天線遠區電場分布，并獲取天線的方向圖和相關電參數；判斷電參數是否滿足天線設計要求，對滿足要求的輸出電參數和單塊面板的位姿信息，否則調整主動面板，并重復上述分析過程，直到電性能滿足要求。仿真結果表明，本發明適用對不同頻段天線的電性能預測，可用于指導主動反射面天線的面板調整及電性能分析。 |
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主動反射面天線的電性能預測方法
一種主動反射面天線的電性能預測方法，包括如下過程： （１）根據天線的基本結構，確定天線的口徑、焦徑比、工作頻率參數，同時得到主動反射面板塊的分塊信息，并將該信息整理成固定格式的數據文件； （２）獲取每塊主動反射面板的初始位置和姿態信息，并整理成固定格式的數據文件； （３）在每塊主動反射面板上選取Ｎ個計算結點，利用面板的初始位姿信息，計算這些結點的Ｚ向位移，求取每個結點的相位差，并將所有結點的相位差合成該單塊反射面板的總相位差； （４）將單塊主動反射面板的總相位差合成天線反射面整體的相位誤差； （５）依據每個主動反射面板的相位誤差和天線口徑面場振幅分布，計算天線的遠區場值，并繪制方向圖，得到相關電參數； （６）根據天線設計的電性能要求，判斷計算出的天線電參數是否滿足要求，如果滿足要求則輸出天線電性能參數和主動反射面板的位姿信息；否則，通過主動反射面板的伺服控制機構調整面板位姿，并重復步驟（２）至步驟（５），直至滿足要求。
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| 專利號: |
200810150306 |
| 申請日: |
2008年7月11日 |
| 公開/公告日: |
2008年11月19日 |
| 授權公告日: |
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| 申請人/專利權人: |
西安電子科技大學 |
| 國家/省市: |
西安(87) |
| 郵編: |
710071 |
| 發明/設計人: |
段寶巖、李鵬、鄭飛、杜李剛、季祥、王偉、宋立偉、王從思、周金柱、李華平 |
| 代理人: |
王品華 黎漢華 |
| 專利代理機構: |
陜西電子工業專利事務所(61205) |
| 專利代理機構地址: |
陜西省西安市太白路2號(710071) |
| 專利類型: |
發明 |
| 公開號: |
101308177 |
| 公告日: |
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| 授權日: |
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| 公告號: |
000000000 |
| 優先權: |
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| 審批歷史: |
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| 附圖數: |
6 |
| 頁數: |
9 |
| 權利要求項數: |
4 |
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