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| 本實(shí)用新型的晶片檢測(cè)裝置，在一機(jī)臺(tái)上設(shè)有一架體供插入檢測(cè)接口，在相對(duì)應(yīng)于架體的下方設(shè)有一可受第一驅(qū)動(dòng)組件帶動(dòng)而與架體相對(duì)水平橫向位移的滑臺(tái)，于滑臺(tái)上設(shè)有一可受第二驅(qū)動(dòng)組件帶動(dòng)而與架體相對(duì)上下位移的載臺(tái)供放置晶片；俾構(gòu)成一種方便更換檢測(cè)接口，以及尤適合搭配自動(dòng)取放料設(shè)備達(dá)到完全自動(dòng)化運(yùn)作的晶片檢測(cè)裝置；尤其，架體的下方與載臺(tái)的上方分別設(shè)有相對(duì)應(yīng)配置的錐孔與錐塊，藉以提升整體晶片檢測(cè)以及讀取晶片中訊息與內(nèi)容的準(zhǔn)確度。 |
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晶片檢測(cè)裝置
一種晶片檢測(cè)裝置，其特征在于，包括有： 一機(jī)臺(tái)； 一架體，設(shè)于機(jī)臺(tái)上方供插入檢測(cè)接口； 一可受一第一驅(qū)動(dòng)組件帶動(dòng)而與架體相對(duì)水平橫向位移的滑臺(tái)，設(shè)于機(jī)臺(tái)相應(yīng)于架體的下方； 一可受一第二驅(qū)動(dòng)組件帶動(dòng)而與架體相對(duì)上下位移的載臺(tái)，設(shè)于滑臺(tái)上供放置晶片。
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| 專利號(hào): |
200820001279 |
| 申請(qǐng)日: |
2008年2月1日 |
| 公開/公告日: |
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| 授權(quán)公告日: |
2008年11月12日 |
| 申請(qǐng)人/專利權(quán)人: |
源程科技股份有限公司 |
| 國(guó)家/省市: |
臺(tái)灣(71) |
| 郵編: |
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| 發(fā)明/設(shè)計(jì)人: |
許宗寅 |
| 代理人: |
周春發(fā) |
| 專利代理機(jī)構(gòu): |
北京申翔知識(shí)產(chǎn)權(quán)服務(wù)公司專利代理部(11214) |
| 專利代理機(jī)構(gòu)地址: |
北京市海淀區(qū)薊門小區(qū)東里(二居)13號(hào)樓1門201室(100088) |
| 專利類型: |
發(fā)明 |
| 公開號(hào): |
000000000 |
| 公告日: |
2008年11月12日 |
| 授權(quán)日: |
2008年11月12日 |
| 公告號(hào): |
201149609 |
| 優(yōu)先權(quán): |
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| 審批歷史: |
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| 附圖數(shù): |
8 |
| 頁數(shù): |
3 |
| 權(quán)利要求項(xiàng)數(shù): |
1 |
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